DT-157/157H高精度涂鍍層測厚儀
CEM DT-157/157H集磁性和非磁性自動轉換測量于一體,是CEM設計、研發(fā)和推出的高精度、快速反應、多功能的涂鍍層測厚儀,帶藍牙和智能APP,其中DT-157H可分體探頭測量。
- 品牌: 華盛昌(CEM)
- 型號: DT-157/157H
CEM DT-157/157H集磁性和非磁性自動轉換測量于一體,是CEM設計、研發(fā)和推出的高精度、快速反應、多功能的涂鍍層測厚儀,帶藍牙和智能APP,其中DT-157H可分體探頭測量。
可測量磁性物質表面的非磁性涂鍍層測厚度
可測量非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度
可測量絕緣表面的非磁性金屬涂層厚度
易于操作的菜單設計
連續(xù)和單次測量方式
直接工作模式和組工作模式
可統計并顯示: 平均值、最大值、最小值、標準方差、統計數
可進行一點、兩點和基本校準
可保存2500個測量數據(50組數據)
實時刪除測量數據和組數據
低電和錯誤提示
一鍵式輕易歸零功能
紅寶石探頭
8級亮度調節(jié)大屏背光燈顯示屏
4.0低功耗藍牙傳輸
一體式和分體式二合一探頭測量方式(DT-157H)
(注:產品、配件和詳細參數,請以實物為準)